INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測量和精準(zhǔn)分析，是對不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。

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產(chǎn)品詳情

品牌	浪聲	類型	鍍層
測量范圍	看	產(chǎn)地	國產(chǎn)

INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測量和精準(zhǔn)分析，是對不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。

INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節(jié)約空間、易于操作、分析快速、檢測精準(zhǔn)等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)的樣品進(jìn)行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，確保客戶獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。

使用優(yōu)勢

多準(zhǔn)直器

多準(zhǔn)直器可選或多種準(zhǔn)直器組合由軟件自動切換，可靈活應(yīng)對不同尺寸的零件。

一鍵式測量

配備直觀而智能的分析軟件，操作簡單，任何人無需培訓(xùn)都可以測試樣品，僅僅需要點(diǎn)擊“開始測試"，數(shù)十秒即可獲得檢測結(jié)果啦。

自動對焦

高低大小樣品可快速清晰對焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動聚焦。

超大測量室

儀器殼體的開槽設(shè)計（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。

無損檢測

X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡，即使是對敏感性材料，其測量也是非常安全的。

高性能進(jìn)口探測器

選用適合于多元素鍍層的高靈敏度的半導(dǎo)體探測器，比起傳統(tǒng)的封氣正比計數(shù)器，半導(dǎo)體探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比）長期穩(wěn)定性以及更長的使用壽命。

可編程自動位移樣品臺

可選配固定或電動型自動平臺，并且可編程以適應(yīng)廣泛的零件尺寸和測試量。固定樣品臺足以對易于定位檢測面積的電路板上一個或幾個位置進(jìn)行點(diǎn)檢。用戶可以使用固定樣品臺手動定位樣品，但是對于具有復(fù)雜設(shè)計和極小特征的電路板，在電動樣品臺上的處理效果會更好，這種樣品臺可提供更好的精確度來進(jìn)行微調(diào)。此外，INSIGHT還允許創(chuàng)建、保存和調(diào)用多點(diǎn)程序，以便對多個部件進(jìn)行自動化測試。可編程 XY 載物臺與內(nèi)置模式識別軟件相結(jié)合，使大容量樣品測試既高效又一致。

應(yīng)用場景

INSIGHT 300桌面式鍍層測厚儀

普通電路板